發動機排氣試驗箱

時間：2016-11-22

作者：廣東宏展科技有限公司

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宏展科技一批高低溫循環試驗箱（專利產品）交付BOSA，ROSA，TOSA生產企業使用！
宏展科技一批高低溫循環試驗箱（**產品）交付BOSA，ROSA，TOSA生產企業公司使用！ 20L小型高低溫循環試驗箱 (Benchtop Temperature Chamber) ???? ????? 符合的測試規范有：MIL STD,GB,JIS,JEDEC,IEC等。小型高低溫循環試驗箱;小型高低溫
非飽和加速壽命試驗箱
非飽和加速壽命試驗箱（又名PCT加速老化試驗機）主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度/濕度及壓力下測試，濕氣會沿著膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速壽命試驗的目的：提高環境應力（如：溫度、氣壓）與工作應力（如：電壓、負荷等）加快試驗過程，縮短產品的壽命試驗時間。用于調查分析電子元器件、機械零件等的
半導體芯片在進行高低溫測試時的注意事項
半導體芯片高低溫測試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學材料等材料行業經常能用到的測試，用于測試材料結構或復合材料。在經過高溫及較低溫的連續變化環境試驗我們可以檢測出半導體芯片忍受較端溫度變化的程度，得以在短時間內檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理損傷。在做半導體芯片高低溫測試需要特別注意，在使用的過程中不能輕易打開半導體芯片高低溫測試箱，主要原因如下：1.做半導體芯片高低溫測試時需要用
冷熱沖擊試驗箱常見問題整理
冷熱沖擊試驗箱常見問題整理說明： ???整理與介紹目前環境試驗當中，使用者在使用環境試驗設備，以及對于規范的要求常遇見的問題與迷失，若您有下述相關問題歡迎您與業務部聯系，我們將竭誠為您服務。 ? 溫度沖擊試驗溫變率是否是越快越好？說明：溫度沖擊試驗中的溫變率是否是越快越好，溫變率到底對于試驗結果有沒有影響，怎么樣的溫變率才是好的沖擊溫變率？