CTLD-1000熱釋光劑量片殘余劑量的評(píng)估

時(shí)間：2019-04-27作者：北京旭輝騰業(yè)科技有限公司瀏覽：33

北京旭輝騰業(yè)科技有限公司專注于熱釋光劑量讀出器,熱釋光個(gè)人劑量計(jì),熱釋光劑量片,熱釋光探測(cè)器退火爐,熱釋光冷卻爐等

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  CTLD-350型熱釋光劑量?jī)x讀出器劑量刻度方法 北京瑞輻特輻射測(cè)量?jī)x器有限公司 概述：熱釋光探測(cè)器在讀出器上的讀數(shù)值是一相對(duì)值，該結(jié)果轉(zhuǎn)換成劑量值需進(jìn)行劑量刻度。這里所說的劑量刻度是指要確定待刻度探測(cè)器、劑量計(jì)對(duì)一系列已知輻射值(或刻度標(biāo)準(zhǔn)值)的響應(yīng)或讀數(shù)。 刻度劑量計(jì)一般采用標(biāo)準(zhǔn)源或已知輻射場(chǎng)(如輻射場(chǎng)是未知的，可用基準(zhǔn)儀器，次級(jí)標(biāo)準(zhǔn)儀器或參考標(biāo)準(zhǔn)儀器測(cè)出輻射場(chǎng)中刻度處的劑量率) 來(lái)刻度。對(duì)

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  CTLD-350型熱釋光劑量?jī)x測(cè)量的質(zhì)量控制 [摘要] 討論了CTLD-350熱釋光劑量讀出器測(cè)量的質(zhì)量控制問題。CTLD-350熱釋光劑量?jī)x中參考光源的光譜應(yīng)與光電倍增管道匹配，光學(xué)系統(tǒng)透射系數(shù)要高而穩(wěn)定，高壓須穩(wěn)定性高，加熱器與探測(cè)器要保持良好的熱接觸；探測(cè)器應(yīng)經(jīng)過篩選，嚴(yán)格控制退火條件，測(cè)量參數(shù)要優(yōu)化確定；劑量刻度源的輻射種類和能譜應(yīng)與所測(cè)量的盡量一致，并須按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求刻度，文中介

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  CTLD-1000熱釋光探測(cè)器發(fā)光曲線的探討 1制備工藝 圖1給出了CTLD系列熱釋光探測(cè)器的制備工藝流程圖。 本工藝解決以下難點(diǎn): LiF:Mg,Cu,P熱釋光材料經(jīng)過熱壓、切片后，其熱釋光特性消失，采取退火工藝，恢復(fù)了探測(cè)器的熱釋光特性；對(duì)熱釋光探測(cè)器進(jìn)行預(yù)處理，提高了LiF:Mg,Cu,P熱釋光材料的穩(wěn)定性；對(duì) LiF:Mg,Ti探測(cè)器制備工藝的進(jìn)行了改進(jìn)；解決了CaSO4探測(cè)器不易成型及