詞條
詞條說明
RoHS檢測(cè)儀目前市場(chǎng)上常見的類型是X射線熒光分析儀,又分為能量色散型和波長色散型,能量色散型因其技術(shù)原理及結(jié)構(gòu)比波長色散型簡(jiǎn)單,現(xiàn)市場(chǎng)上比較常見,其技術(shù)原理:特征X射線放射性同位素源或X射線發(fā)生器放出的X射線或「射線與樣品中元素的原子相互作用,逐出原子內(nèi)層電子。當(dāng)外層電子補(bǔ)充內(nèi)層電子時(shí),會(huì)放射該原子所固有能量的X射線特征X射線。元素含量與特征X射線強(qiáng)度的關(guān)系不同元素特征X射線能量各不相同,依此進(jìn)
X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測(cè)功能,又可滿足有害元素檢測(cè)及輕元素成分分析,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量。X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀配置01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測(cè)器對(duì)儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)05 Fast-SDD探測(cè)器06 雙激光定位裝置07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直
ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀,分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件,相對(duì)簡(jiǎn)單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律
主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射,第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在,該方法作為非破壞性分析技術(shù),并作為過程控制的工具,廣泛應(yīng)用于采掘和加工工業(yè)。原則上,最輕的元素,可分析出鈹(z=4),但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產(chǎn)量,往往難以量化,所以針對(duì)能量分散式的X射線熒光光譜儀,可以分析從輕元素的鈉(z=11)到鈾,而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 孫
電 話:
手 機(jī): 13814856624
微 信: 13814856624
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號(hào)
郵 編:
網(wǎng) 址: jstryqgfyxgs.b2b168.com
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