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物理原理出發,為什么芯片等半導體等電子元件不能忍受高溫(100℃左右)?溫度會影響很多很多參數,它們會對電路的各個方面產生影響。zui大的問題就是電路延遲。溫度會影響半導體器件的遷移率和閾值電壓,但是這兩者和溫度的關系很復雜,而且不同材料的不同摻雜也會影響溫度效應。通常情況下,在接近室溫的情況下,遷移率和閾值都會隨著溫度的上升而降低,總體上來說,溫度的上升會造成電路延時的增加。一旦延時過高,部分電
紫外光老化試驗是一種對產品進行紫外光老化試驗的試驗方法。這個試驗可以評價材料,涂料,以及諸如塑料,涂料,橡膠,纖維,織物等在室外使用的產品。紫外光老化試驗是利用紫外光管內的紫外光,對被測試樣進行加速老化試驗。輻照強度及試驗時長可依試驗要求及本產品之設計而定。但是,經過多長時間的UV老化測試才相當于產品的實際使用年限呢?這并不是一個確切的答案,因為實際的年限取決于許多因素,例如使用環境、氣候條件、維
非飽和加速壽命試驗箱(又名PCT加速老化試驗機)主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度/濕度及壓力下測試,濕氣會沿著膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速壽命試驗的目的:提高環境應力(如:溫度、氣壓)與工作應力(如:電壓、負荷等)加快試驗過程,縮短產品的壽命試驗時間。用于調查分析電子元器件、機械零件等的
高低溫濕熱試驗箱/重慶高低溫測試箱/重慶溫度循環箱/成都高低溫箱/成都溫度試驗箱/成都高低溫老化箱
高低溫濕熱試驗箱/重慶高低溫測試箱/重慶溫度循環箱/成都高低溫箱/成都溫度試驗箱/成都高低溫老化箱 KWGD系列簡介:本試驗箱適用于對產品(整機)、零部件、材料進行高溫、低溫、高低溫循環及溫度篩選(ESS)試驗。本試驗箱可用于散熱試驗樣品和非散熱試驗樣品的試驗。對于散熱試驗樣品的試驗,其散熱功率不能**過試驗箱制冷量,因制冷量為動態值,其隨溫度點變化而有所變化。 KWGD系列技術參數 型號 KWGD
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