AXUV系列-光子、電子或X射線的**測量能力

時間：2023-04-24

作者：深圳維爾克斯光電有限公司

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詞條
詞條說明
optodiode探測器問題指南
optodiode探測器常見問題及解決方法如下：美國optodiode探測器響應時間太長（時間常數太慢），第一步是檢查源強度。如果光源的強度太高（超過1mW/cm2），探測器材料將加熱到改變探測器特性的點。這種變化迫使探測器比最初進行測量所需的時間更長，因為基本上探測器被重新敏化，這改變了探測器的光導特性。對探測器性能的影響程度取決于加熱/變化區域與整個探測器表面積的比率。optodiode探測器
Layertec的表面光潔標準的說明
此文就講述了鍍膜鏡片在ISO 10110標準下的鏡片表面質量/表面公差(Surface Form Tolerances)和表面缺陷(劃痕)/表面光潔度(Surface Imperfection Tolerances)的含義，句法分析和實例。Layertec對比了MIL標準和ISO 10110標準，最終選擇更為合適和更好理解的ISO 10110標準。Da = RMS（旋轉變異部分）上圖只顯示了三維光
用于極紫外光EUV，集成選擇性帶通薄膜濾波片的硅光電二極管
選擇了六個在極紫外光譜中具有有用帶通的涂層進行研究：鋁、鋁/碳，鋁/碳/鈧，鈦，錫，和銀。這些濾波片通常用于0.1至80納米的區域，并有10到50納米的帶通。濾光材料涂層是由有經驗的無支架濾光片供應商在晶圓上涂抹的，以確保光學質量是最先進的。涂層和非涂層光電二極管的輻射測量是通過美國國家標準技術研究所（NIST）的極紫外探測器標準進行的。該設施同時利用了NIST電子存儲環同步輻射源、SURF II
簡單測試Alphalas超快探測器能否正常使用
Alphalas UPD系列超快光電探測器覆蓋170至2600nm的光譜范圍，是激光和光子學研究不可或缺的工具。但是在運輸的過程中難免會出現損壞的情況，需要進行超快光電探測器檢測。本文主要介紹對UPD超快光電探測器的一般功能的簡單測試，幫助客戶在使用前判斷UPD光電探測器的好壞。所有光電二極管均封裝在緊湊堅固的鋁制外殼中，并可通過電池或外部電源進行偏置。以下是UPD超快探測器檢測的簡單判斷：1.