臺式x熒光光譜儀是否可以測金屬鍍層？

時間：2023-10-25

作者：無錫創想分析儀器有限公司杭州分公司

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臺式x熒光光譜儀是否可以測金屬鍍層？
近日，創想小編收到來自售前的反饋說有客戶咨詢臺式x熒光光譜儀可不可以測金屬鍍層？接下來小編來回答一下這個問題。臺式X熒光光譜儀是通過激發樣品中的分子或原子，使其發生熒光**，然后檢測產生的熒光光譜來分析樣品的成分和結構。現如今臺式X熒光光譜儀是一種非常常用的分析儀器，很受廠家的青睞。答案是肯定的。事實上，臺式X熒光光譜儀可以用于測量各種類型的金屬鍍層，包括鍍鉻、鍍鋅、鍍鎳、鍍銅等。這是因為金屬鍍層
臺式X熒光光譜儀有哪三種探測器？
臺式X熒光光譜儀主要包括光源、激發單色器、樣品池、熒光單色器及探測器等主要部件。而探測器是很重要的一環，它的重要作用是接受和分辨信號，由于探測器性能的不同，在選用探測器時，就需要綜合考慮多種因素。好的探測器不僅需要具有高分辨率和高計數率，還需要有較寬的元素分析范圍和有效活性區。其應用領域和使用環境等也是需要關注之一。就目前X熒光光譜儀常用的三種X射線探測器而言，產生一個離子對的平均能量，在Si(L
臺式X熒光光譜儀分析過程誤差之儀器方面
熟悉臺式X熒光光譜儀這個儀器的應該都知道它的原理，是X射線熒光光譜儀是通過X射線管產生的X射線作為激光源，激發光源激發樣品產生X熒光射線。根據熒光X射線的波長和強度來確定樣品的化學組成。那因為其高效精度高的特點，X熒光光譜儀在我國各行各業應用越來越廣泛。所以我們也要著力于研究X熒光光譜儀在分析過程中的誤差，那么今天小編來給大家介紹下其中一個方面。創想臺式X熒光光譜儀X熒光光譜儀儀器方面的誤差因素：
手持式光譜儀怎么把測量數據預處理？
手持式光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成，由于其便攜具有高效、便攜、準確等特點，使其在合金、礦石、環境、消費品等領域有著重要的應用。那手持式光譜儀測量數據的預處理方法是什么呢？創想儀器會在這篇文章里告訴你。手持式光譜儀的測量數據預處理可以通過以下步驟進行：數據篩選：檢查測量數據的完整性，例