表面成分分析的常見方法

時間：2019-12-23

作者：深圳市啟威測標準技術服務有限公司

詞條
詞條說明
聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應用
焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負電場?(Extractor)?牽引**細小的鎵原子，而導出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、
常用熱分析方法對比
熱分析技術是在溫度程序控制下研究材料的各種轉變和反應，是一種十分重要的分析測試方法。常用的熱分析方法有：熱重法(TG)、差熱分析法（DTA）、差示掃描量熱法（DSC）。熱重分析法：?熱重分析（Thermogravimetric Analysis，TG或TGA），是指在程序控制溫度下測量待測樣品的質量與溫度變化關系的一種熱分析技術，用來研究材料的熱穩定性和組份。TGA在研發和質量控制方面都
成分分析的作用及目的
成分分析的目的了解原料成份，質量監控分析產品中的各個組分比例，還原產品配方為產品標簽尋找證據證明產品不含某成份為產品性能下降找原因了解成份含量，以了解產品性能解決生產過程出現的問題比較不同時期的產品成分分析的作用煉鋼爐前分析——控制產品質量分析組成成分----還原配方工業問題診斷----分析原因，消除隱患成品檢驗——合格產品的質保書深圳市啟威測標準技術服務有限公司（簡稱“啟威測”或“QWC”）成立
涂鍍層厚度測試的應用領域
涂鍍層厚度測試應用領域電子、汽車、航空、材料、金屬、陶瓷品等各個制造領域。涂/鍍層厚度測量相關參考標準GB/T?6462-2005?金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法GB/T16921-2005?金屬覆蓋層?覆蓋層厚度測量 X射線光譜法ASTM?B487-1985(2007)?用橫斷面顯微觀察法測定金屬及氧化層試驗方法ASTM?