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? ? ? X光鍍層測厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術,X光管產生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內層電子,出現殼層空穴,當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時,就會產生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。 X光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的*二次X射線的
? x熒光鍍層測厚儀采用X熒光分析技術,可以測定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,可以進行電鍍液的成分和濃度測定。? ? ? x熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法,屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時,其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發后會**出各自特征的X射線,不同的元素有不同的特征X射線、探測器探測到這些特征X射線后,將其光信號
? ? ?x射線鍍層測厚儀已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。使用x射線鍍層測厚儀的主要測量方法有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中**種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多
? ? ? X光鍍層測厚儀已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。X射線是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測較薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用X射線鍍層測厚儀 向微型、
公司名: 蘇州實譜儀器有限公司
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