詞條
詞條說(shuō)明
快速溫變?cè)囼?yàn)箱維護(hù)保養(yǎng)方法
快速溫變?cè)囼?yàn)箱是一款比常規(guī)試驗(yàn)箱較加精準(zhǔn)的試驗(yàn)設(shè)備,所以我們要保證在使用過(guò)程中設(shè)備內(nèi)部的零配件是不存在問(wèn)題的,不然就可能導(dǎo)致設(shè)備出現(xiàn)故障或是影響到設(shè)備的性能指標(biāo),從而讓試驗(yàn)無(wú)法正常進(jìn)行。不過(guò)也有方法可以盡量避免這種情況的出現(xiàn),就是需要大家平時(shí)多加注意。1.檢查壓力調(diào)節(jié)器和負(fù)荷調(diào)節(jié)器2.注意快速溫變?cè)囼?yàn)箱壓縮機(jī)和安裝設(shè)備的場(chǎng)所的環(huán)境的衛(wèi)生。3.工作人員要注意電機(jī)的溫升、軸承溫度和電壓表、電流表指示情
一、在無(wú)負(fù)載條件下開展校準(zhǔn):此方法的優(yōu)點(diǎn)是:高低溫試驗(yàn)箱的整個(gè)工作區(qū)域都得到了校準(zhǔn)、測(cè)試樣品變得較時(shí)不需要重新校準(zhǔn)、能夠?qū)Ω叩蜏卦囼?yàn)箱的適用性做出有效的評(píng)估。它的主要缺點(diǎn)是:不能評(píng)估測(cè)試樣品對(duì)試驗(yàn)箱所造成的影響。? 二、在有負(fù)載條件下開展校準(zhǔn):此方法的優(yōu)點(diǎn)是:能夠比較準(zhǔn)確地評(píng)估測(cè)試樣品對(duì)試驗(yàn)箱性能的影響、易于得到測(cè)試樣品關(guān)鍵部件或部位的環(huán)境試驗(yàn)的詳細(xì)信息。而它的主要缺點(diǎn)是:當(dāng)更換測(cè)試樣品
紫外光加速老化試驗(yàn)機(jī)(Q8UV老化機(jī))
您的產(chǎn)品能否承受日曬雨淋?陽(yáng)光和水份是戶外產(chǎn)品的較大敵人,Q8 能模擬陽(yáng)光、雨露造成的損害,符合多項(xiàng)**認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。改善傳統(tǒng)耐候試驗(yàn)機(jī)結(jié)構(gòu)復(fù)雜、保養(yǎng)困難的缺點(diǎn)。Q8采整體式設(shè)計(jì),可程控設(shè)定每天 24小時(shí)每周7天不間斷紫外光及雨露耐候試驗(yàn)。只要幾天或數(shù)星期的時(shí)間,就可再現(xiàn)室外幾個(gè)月、甚至數(shù)年時(shí)間才會(huì)發(fā)生的損傷,包括顏色變化、光澤損失、粉化、起霧、脆變、強(qiáng)度降低等各種現(xiàn)象。 Q8/UV2/UV3標(biāo)準(zhǔn)配備
半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱(也稱為溫濕度循環(huán)試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等)是一種專門用于對(duì)半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件,以評(píng)估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 4937.42-2023 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 *42部分:溫濕度貯存主要技術(shù)參數(shù):溫度范圍: -20℃~100℃(150℃)、-40℃~100℃(
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