環(huán)境可靠性測(cè)試淺談高低溫試驗(yàn)

時(shí)間：2019-01-04作者：廣東蘇試廣博測(cè)試技術(shù)有限公司瀏覽：157

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 機(jī)械可靠性測(cè)試廠家分享電子產(chǎn)品常見(jiàn)可靠性試驗(yàn)有哪些

  一般來(lái)說(shuō)為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn)，是為預(yù)測(cè)從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況，選定與市場(chǎng)環(huán)境相似度較高的環(huán)境應(yīng)力后，設(shè)定環(huán)境應(yīng)力程度與施加的時(shí)間，主要目的是盡可能在短時(shí)間內(nèi)，正確評(píng)估產(chǎn)品可靠性。 產(chǎn)品設(shè)計(jì)成型后，必須對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性試驗(yàn)，產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)是激發(fā)潛在失效模式，提出改進(jìn)措施，確定項(xiàng)目或系統(tǒng)是否滿足預(yù)先制定的可靠性要求的必須步驟。 可靠性試驗(yàn)是為了確定已

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  什么是氙燈老化測(cè)試？下面氙燈老化測(cè)試機(jī)構(gòu)給大家講一講，希望下述內(nèi)容可以幫到大家。 氙燈老化測(cè)試是一款模擬全陽(yáng)光光譜的測(cè)試，氙燈老化測(cè)試是目前模擬人工氣候可靠性測(cè)試做好的測(cè)試。可以在短時(shí)間內(nèi)模擬出近似于自然的人工氣候測(cè)試。此測(cè)試可用于新材料的選擇、改進(jìn)現(xiàn)有材料或評(píng)估材料組成后耐用性的變化測(cè)試。可為科研、產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的模擬測(cè)試環(huán)境和加速測(cè)試。可以較好的模擬在不同環(huán)境下，產(chǎn)品暴露在陽(yáng)光下

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  三綜合試驗(yàn)可適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧跍囟取穸取⒄駝?dòng)環(huán)境下檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)，下面三綜合振動(dòng)試驗(yàn)中心給大家講一講。 三綜合振動(dòng)試驗(yàn)具有著高強(qiáng)度、高柔軟性、高密封性、高絕熱性的特征，并能長(zhǎng)期耐高低溫、潮濕的密封體，它的用途有下述內(nèi)容： 三綜合振動(dòng)試驗(yàn)是主要?dú)夂蛳浜驼駝?dòng)試驗(yàn)臺(tái)的綜合，對(duì)試件施加溫度、濕度、振動(dòng)應(yīng)力進(jìn)行綜合環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)。與單一

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  物理特性測(cè)試項(xiàng)目 1、內(nèi)部水汽：確定在金屬或陶瓷封裝的光電子器件內(nèi)部氣體中水汽含量。 2、密封性：確定具有內(nèi)空腔的光電子器件封裝的氣密性。 3、ESD闊值：確定光電子器件受靜電放電作用所造成損傷和退化的靈敏度和敏感性。 4、可燃性：確定光電子器件所使用材料的可燃性。 5、剪切力：確定光電子器件的芯片和無(wú)源器件安裝在管座或其他基片上使用材料和工藝的完整性。 6、可焊性：確定需要焊接的光電子器件引線