一文了解光譜分析儀及光譜分析儀種類

時間：2022-10-26作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：158

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標準片,光譜儀測厚儀等

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  詞條說明

• 為什么要選擇毛細管聚焦XRF技術?

  隨著電子設備和電子元件越來越小、越來越復雜，這些元件上所做的金屬修飾面也變得越來越小型化(如較薄的鍍層，較嚴格的偏差控制)。如果鍍層厚度**給定指標，產品將不符合性能要求，且可能會過早出現故障，從而導致保修索賠和聲譽受損。接下來和一六儀器一起了解一下為什么要選擇毛細管聚焦XRF技術?因為是非破壞性的快速、直接測量，X射線熒光(XRF)成為一種廣泛使用的鍍層厚度和成分測量技術。為測量小型化的鍍層，傳

• X熒光光譜儀在區域地質勘察中應用

  利用 X射線熒光光譜儀器對地質勘察中采集的樣品粉末進行多元素測定非常，能快準確、高精度地得到檢測結果。對于不同區域的地質勘察樣品，能利用專業計算機軟件進行數據處理，提高了分析準確性和效率。通常區域化測試中需要測定39種不同的元素，而X射線熒光光譜儀就能對其中的26種進行準確測定。目前X射線熒光光譜儀進行測定工作流程比較完整，在結合其他化學探樣品分析方法后，多元素測定的效果很好，具有良好的經濟效益和

• 一六儀器生產的XAD系列光譜分析儀有哪些優勢？

  江蘇一六儀器生產的XAD系列熒光光譜儀是一款上照式全元素光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區RoHS檢測及多元素成分分析，**的算法及解譜技術解決了諸多業界難題。1. 微小樣品檢測：較小測量面積0.008mm2 ;2. 變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-90mm ;3. *的EFP算法：Al(13)-U(92)元素的成分分析，Li(3

• 臺式涂鍍層測厚儀儀器分析優勢

  XTU-4C是一款設計結構緊湊，模塊精密化程度較高的鍍層測厚儀，采用了下照式C型腔體設計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型**出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度*、適用性強的機型。臺式XTU-4C涂鍍層測厚儀分析優勢：1.即放即測※C型樣品腔體設計便于放置樣品※放置樣品后,僅需幾秒便能出※無損分析:*破壞樣品2較佳設計，快速找點※高分辨率和高放大倍率的彩色數碼影像裝置,