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隨著科學技術的進步,在60年代初發明了半導體探測器以后,對X-熒光進行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF),用X射線管產生原級X射線照射到樣品上,所產生的特征X射線(熒光)直接進入半導體探測器,便可以據此進行定性分析和定量分析。接下來和一六儀器了解X熒光光譜儀兩種分類介紹。X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下,被測元素原子的
1. 化學鍍鎳涂層的復雜性:化學鍍鎳涂層的成分和結構復雜,通常為Ni-P合金,這使得對其進行準確的測厚變得較加困難。?2. 厚度的均勻性:化學鍍鎳涂層的厚度均勻性可能存在變化,特別是在復雜形狀和不規則表面上,測量可能會出現誤差。?3. 表面的不平整性:化學鍍鎳涂層可能會形成不平整的表面,如顆粒狀或起伏不平,這給測厚造成困難。?4. 鎳磷含量的影響:化學鍍鎳涂層中鎳和磷
企業想要把控產品品質,實現產品的精準化測量,鍍層測厚儀是**的。我們想要測量結果,不僅需要好的鍍層測厚儀,在使用時候還需要留意一些注意事項。今天鍍層測厚儀生產廠家一六儀器的小編給大家整理了五點注意事項,一起來看一下吧。一、工作環境一般情況下,儀器對使用環境沒有什么特殊的要求,但由于鍍層測厚儀屬于高精密儀器,為確保測試數值的準確性及延長儀器使用壽命,建議使用環境內溫度保持在20±5℃、濕度
隨著電子設備和電子元件越來越小、越來越復雜,這些元件上所做的金屬修飾面也變得越來越小型化(如較薄的鍍層,較嚴格的偏差控制)。如果鍍層厚度**給定指標,產品將不符合性能要求,且可能會過早出現故障,從而導致保修索賠和聲譽受損。接下來和一六儀器一起了解一下為什么要選擇毛細管聚焦XRF技術?因為是非破壞性的快速、直接測量,X射線熒光(XRF)成為一種廣泛使用的鍍層厚度和成分測量技術。為測量小型化的鍍層,傳
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
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