詞條
詞條說(shuō)明
無(wú)效分析是芯片設(shè)計(jì)關(guān)鍵步驟,無(wú)論針對(duì)批量生產(chǎn)樣品或是設(shè)計(jì)方案階段亦或是客退品,無(wú)效分析可以協(xié)助控制成本,減少周期時(shí)間。普遍的無(wú)效分析方式有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,由于無(wú)效分析機(jī)器設(shè)備價(jià)格昂貴,絕大多數(shù)要求企業(yè)配不上或配參差不齊必須的機(jī)器設(shè)備,因而使用外力作用,應(yīng)用擴(kuò)大開(kāi)放的資源,來(lái)進(jìn)行自身的分析也是一種有效的挑選。大家決定去外邊檢
實(shí)驗(yàn)室CNAS認(rèn)可流程CNAS:中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可**(China National Accreditation Service for Conformity Asses ** ent)的簡(jiǎn)稱(chēng),是根據(jù)《*人民共和國(guó)認(rèn)證認(rèn)可條例》的規(guī)定,由國(guó)家認(rèn)證認(rèn)可監(jiān)督管理**批準(zhǔn)設(shè)立并授權(quán)的國(guó)家認(rèn)可機(jī)構(gòu),統(tǒng)一負(fù)責(zé)對(duì)認(rèn)證機(jī)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)室和檢查機(jī)構(gòu)等相關(guān)機(jī)構(gòu)的認(rèn)可工作實(shí)驗(yàn)室CNAS認(rèn)可意義1.提高實(shí)驗(yàn)室管理水平
無(wú)損是工業(yè)發(fā)展**的有效工具。?無(wú)損是指在不損害或不影響被對(duì)象使用性能,不傷害被對(duì)象內(nèi)部組織的前提下,利用材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)異?;蛉毕荽嬖谝鸬臒?、聲、光、電、磁等反應(yīng)的變化,以物理或化學(xué)方法為手段,借助現(xiàn)代化的技術(shù)和設(shè)備器材,對(duì)試件內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)及缺陷的類(lèi)型、性質(zhì)、數(shù)量、形狀、位置、尺寸、分布及其變化進(jìn)行檢查和測(cè)試的方法。?主要有射線(xiàn)檢驗(yàn)(RT)、
鍍層位置結(jié)果,(μm)平均厚度,(μm)銅(Cu)12.822.942.932.983.262.992.8322.812.342.392.582.952.6132.892.752.722.422.202.6042.572....鍍層位置結(jié)果,(μm)平均厚度,(μm)銅(Cu)12.822.942.932.983.262.992.8322.812.342.392.582.952.6132.892.
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